OPO望远瞄准测试系统是一套用于测试光学瞄准系统的模块化多功能测试系统,OPO测试系统支持一系列重要参数的测试:分辨率,MTF(轴上,离轴),放大率,畸变,视场,透过率,渐晕,出瞳距离,出瞳直径,屈光度范围,视差等。被测望远瞄准系统可以由这些参数来表征其性能。OPO测试系统对于望远瞄准系统的生产商,采购商或者维修站来说都是比较好的测试工具。OPO系统是人工由操作计算机系统的概念建立的,该系统可以对被测望远镜瞄准具生成的参考图像进行分析。简单的手工操作设计理念,模块化设计,可靠性高,使用寿命长。光电技术,为智能交通系统提供可靠信号检测。安徽光电测试系统介绍
由于各种原因,生成高分辨率融合图像较为困难,其中一个原因是需要校正不同成像传感器产生的图像的畸变和放大程度的差异,优化图像校正算法需要对所有成像传感器均可见的已知几何形状的特定目标进行研究。Inframet提供支持双通道融合图像的棋盘式FUT靶标,能够发射热辐射(靶标实际上是一个调节均匀温度的大面积辐射源),也能反射可见光/近红外范围内的入射辐射。因此,无论是在中波红外/长波红外范围内工作的热像仪,还是在可见光/近红外范围内工作的夜视仪/相机,都可以看到相同图像。该靶标可用于确定热成像相对于可见光图像的空间位移二维图。安徽光电测试系统介绍明策精细光电技术,保障光伏产业高效能测试。
TCB面源黑体用于典型温度范围为0℃至100℃的小型50x50mm发射面的TCB-2D黑体被用作测试热像仪的DT/MS系统的模块。具有更大发射面和其他温度范围的黑体都可以作为其他各种应用的单独模块提供。Inframet可以提供高达500x500mm的发射面的TCB黑体(型号TCB-2oD)。
但是,应该注意的是,典型的小黑体TCB-2D/TCB-4D黑体与TCB-12D/TCB-2oD之间存在很大差异。后者的黑体要大得多,需要更大的功率,升温更慢,更昂贵。因此建议您选择自己合适的发射面尺寸即可。
BLIQ黑体是使用三个温度调节器构建的。
首先,标准Peltier元件能够在约0ºC至约100ºC范围内实现准确的温度调节。
第二,液体冷却器用于将黑体温度降低到零度以下。
第三,当温度超过100ºC时,可选加热器进行调节温度。BLIQ黑体附有专业用罩。当使用干燥氮气填充时,该罩可以保护黑体发射器免受结霜或湿气冷凝的影响。BLIQ黑体的特点是具有优异的温度分辨率、时间稳定性、温度均匀性和温度不确定性。所有这些功能使得BLIQ黑体被用作测试/校准热成像仪/IRFPA模块系统中的红外辐射源的理想选择,或国家标准实验室的温度标准。 光电精确测量,保障医疗器械精确操作。
Ls-dAL光源是多通道标准光源,有四种工作模式,具有的动态范围、可连续调节光强度(能够模拟超亮的白天和黑夜)、计算机化设计,可用于测试可见光-短波红外相机(彩色/单色CCD / CMOS / ICCD / EBCCD相机、短波红外相机),用于中/远程监测应用。
工作模式①卤素灯,色温2856K,模拟夜晚和典型的白天②白光LED,色温超过5000K,模拟极亮的白天③镐强度紫外LED,检测抗紫外线的能力
总量度范围10mcd/m2-10kcd/m2–D(白天版本)10μcd/m2-10kcd/m2–DN(白天/夜晚版本)(注:亮度范围可以扩展) 光电测试,助力风电行业,提升叶片质量检测。安徽光电测试系统介绍
JT400多传感器轴对准测试系统,保障电子元件性能稳定。安徽光电测试系统介绍
ORI光学镜头测试系统是一台通用型光学镜头测试系统。该系统可以测量镜头的所有重要参数:MTF,分辨率,EFL,畸变,渐晕,透过率,BFL,工作焦距,焦深,场曲,色差等。可测试波段涵盖了VIS,NIR,SWIR,MWIR和LWIR,也可用于测试多波段光学系统,列如VIS-SWIR和MWIR-LWIR。
ORI测试系统原理:目标发生器放置在被测镜头的焦平面上形成一套投影系统,透射出的平行光入射平行光管,蕞终成像到相机的接收面上。ORI测试系统蕞大的特点是采用逆光路测量原理,较一般正光路的测量系统具有独特的优势。 安徽光电测试系统介绍
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