重庆手机近场辐射解决方案 扬芯科技供应

天线口径场分布诊断是通过测量天线近区场的分布逆推出天线口径场分布，从而判断出口径场畸变处所对应的辐射单元，这就是天线口径分布诊断的基本原理，重庆手机近场辐射解决方案。该方法对具有一维圆对称天线口径分布的分析是可靠的，尤其对相控阵天线的分析与测量已有了充分的可信度。天线方向图副瓣电平在-28～-35 dB之间的天线称为低副瓣天线；副瓣电平小于-40 dB的天线称为很低副瓣天线。对它们的测量要用到“零探头”技术，重庆手机近场辐射解决方案，据文献报导，重庆手机近场辐射解决方案，副瓣电平在-40 dB以上时，测量精度为±3 dB，副瓣电平为-55 dB时，测量精度为±5 dB。根据天线的种类，一种场会成为主导。重庆手机近场辐射解决方案

传统的EMI辐射测试往往借助EMI接收机，在专业实验室的暗室里进行，这固然可以对产品的整体EMI辐射做严格的测试，但往往测试周期长、费用较高，加之远场测试只能测出结果，而不能给出具体辐射的位置，所以给产品的设计和改善带来不小的麻烦。随着测试测量仪器的发展，近几年，近场探头和频谱分析仪的组合个EMI辐射的测试定位带来了新的方向。为采用一个近场探头和实时频谱分析仪对一个电路进行辐射源的查找，我们可以很清楚的观测到在近场探头附件有四个主要频率的辐射，这对于硬件工程师进行设计的改善是具有极大帮助的。重庆手机近场辐射解决方案近场通常分为两个区域，反应区和辐射区。

测量方法的优点是通过一次测量可获得较多的信息量，利用这些信息可计算出金属导体目标散射的平面和空间的散射方向图以及它的散射极化特性；也可计算出该导体目标RCS的一定值，但在实际测量系统中，发射探头（提供照射源的探头）和接收探头是安装在同一个道轨上，因此，按照散射近场平面波扫描理论，发射探头扫描在一个位置时，接收探头需要在一维方向做一次扫描；发射探头扫描在另一个位置时，接收探头仍要在一维方向做一次扫描，发射探头位置不断向一个方向扫描，接收探头的扫描范围就会越来越小，因此，有一半的测量数据是得不到的，解决这一问题的方法是利用互易定理。

辐射近场测量的研究起始于50年代，70年代中期处于推广应用阶段（商品化阶段）。目前，分布在世界各地的近场测量系统已有100多套。该技术的基本理论已基本成熟，这种测量方法的电参数测量精度比常规远场测量方法的测量精度要高得多，而且可全天候工作，并具有较高的保密性，因此，在民用中都显示出了它独特的优越性。辐射近场测量研究的主要成果，几十年来，辐射近场测量的研究在以下4个方面取得了突破性的进展：常规天线电参数的测量，天线近场测量可以给出天线各个截面的方向图以及立体方向图，可以分析出方向图上的所有电参数（波束宽度、副瓣电平、零值深度、零深位置等）和天线的极化参数（轴比、倾角和旋向）以及天线的增益。通常，近场是指从天线开始到1个波长(λ)的距离。

柱面辐射近场测量能够计算天线全部面的辐射方向图，但在θ=-90°或90°时，柱面波展开式中汉克尔函数已无意义，所以，柱面辐射近场测量适用于天线方向图为扇形波束天线的测量。球面辐射近场测量能够计算除球心以外天线任意面上任意点的辐射场，但测量及计算时间都较长。辐射近场测量的基本理论虽然已经成熟，且在实用中也取得了较多的研究成果，但对以下问题还应进行进一步的探讨研究：考虑探头与被测天线多次散射耦合的理论公式。所有的理论公式都是在忽略多次散射耦合条件下而得出的，这些公式对常规天线的测量有一定的精度，但对低副瓣或很低副瓣天线测量就必需考虑这些因素，因此，需要建立严格的耦合方程。以焦斑为中心，落在其前后半个瑞利长度范围外的光场为近场，否则称为远场。重庆手机近场辐射解决方案

天线旁边的磁场呈球形或弧形，特别是距离天线近的磁场。重庆手机近场辐射解决方案

为什么要进行EMC合规性预测试？随着电气电子技术的发展，家用电器产品日益普及和电子化，广播电视、邮电通讯和计算机网络的日益发达，电磁环境日益复杂和恶化，使得电气电子产品的电磁兼容 性（EMC电磁干扰EMI与电磁抗EMS）问题也受到各国有关部门和生产企业的日益重视。电子、电器产品的电磁兼容性（EMC）是一项非常重要的质量指标，它 不只关系到产品本身的工作可靠性和使用安全性，而且还可能影响到其他设备和系统的正常工作，关系到电磁环境的保护问题。重庆手机近场辐射解决方案

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